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電子元件溫度速變試驗箱電阻值波動評估
簡要描述:

電子元件溫度速變試驗箱電阻值波動評估電子元件在溫度快速變化下的性能而設(shè)計。它能精確控制溫度變化速率和范圍,模擬各種不同溫度工況。在電阻值波動評估方面表現(xiàn)出色,通過對電子元件進行快速溫度循環(huán)測試,可準確監(jiān)測其電阻值的變化情況。該試驗箱操作簡便,數(shù)據(jù)精準可靠,為電子元件的質(zhì)量檢測和可靠性驗證提供有力支持,確保電子元件在不同溫度條件下仍能保持穩(wěn)定的性能,是電子行業(yè)研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)量控制的重要設(shè)備。

  • 產(chǎn)品型號:HT-TEB-225PF
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-09-03
  • 訪  問  量:216
詳情介紹
品牌廣皓天價格區(qū)間5萬-10萬
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域石油,能源,電子,電氣
內(nèi)容積225 升內(nèi)箱尺寸W×D×H = 500×600×750mm
外箱尺寸W×D×H = 850×1500×2030mm溫度范圍-20℃~+150℃
溫度波動度±0.3℃(-20℃~+100℃);±0.5℃(+100.1~+150℃)溫度偏差±1.5℃(+100.1~+150℃)
升溫時間 (平均 /min)非線性升溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)降溫時間 (平均 /min)非線性降溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)
使用環(huán)境溫度 +5℃~+35℃;濕度≤90% rh內(nèi)箱不銹鋼板 SUS304
電源AC380 (1±10%) V (50±0.5) Hz 三相四線 + 保護地線

電子元件溫度速變試驗箱電阻值波動評估


一、用途

產(chǎn)品研發(fā)

對于新開發(fā)的電子元件,通過溫度速變試驗箱可以評估其在不同溫度變化條件下的電阻值穩(wěn)定性。幫助研發(fā)人員了解元件的性能特點,優(yōu)化設(shè)計和制造工藝,提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。

可以模擬各種實際使用環(huán)境中的溫度變化情況,提前發(fā)現(xiàn)潛在問題,為產(chǎn)品的改進提供依據(jù)。

質(zhì)量控制

在電子元件的生產(chǎn)過程中,對原材料和成品進行溫度速變下的電阻值波動測試,確保產(chǎn)品符合質(zhì)量標準。及時發(fā)現(xiàn)不合格產(chǎn)品,避免不良品流入市場,提高產(chǎn)品的整體質(zhì)量水平。

對不同批次的元件進行對比測試,保證產(chǎn)品質(zhì)量的一致性和穩(wěn)定性。

可靠性驗證

通過反復(fù)的溫度快速變化測試,驗證電子元件在不同溫度條件下的可靠性和耐久性。為產(chǎn)品的使用壽命和可靠性提供數(shù)據(jù)支持,增強客戶對產(chǎn)品的信心。



電子元件溫度速變試驗箱電阻值波動評估


電子元件溫度速變試驗箱電阻值波動評估


二、設(shè)備在產(chǎn)品測試中的重要性


模擬實際環(huán)境

電子元件在實際使用中往往會經(jīng)歷不同的溫度變化,溫度速變試驗箱能夠真實地模擬這些環(huán)境條件,使測試結(jié)果更具實際意義。例如,電子產(chǎn)品在不同氣候地區(qū)使用或在工作過程中發(fā)熱和散熱,都會導(dǎo)致元件周圍的溫度變化。

加速老化測試

通過快速的溫度變化,可以在較短的時間內(nèi)模擬電子元件在長期使用過程中的老化過程。提前發(fā)現(xiàn)元件的潛在問題,縮短產(chǎn)品的研發(fā)周期和質(zhì)量檢測時間。

精確控制測試條件

試驗箱可以精確控制溫度變化速率、溫度范圍、停留時間等參數(shù),確保測試結(jié)果的準確性和可重復(fù)性。這對于比較不同元件的性能以及評估產(chǎn)品的質(zhì)量穩(wěn)定性至關(guān)重要。

提高產(chǎn)品可靠性

通過對電子元件進行電阻值波動評估,可以篩選出具有良好性能的元件,提高電子產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。減少因元件故障導(dǎo)致的產(chǎn)品維修和更換成本,提升產(chǎn)品的市場競爭力。

優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計

根據(jù)試驗結(jié)果,產(chǎn)品設(shè)計師可以了解電子元件在不同溫度條件下的性能變化規(guī)律,從而優(yōu)化產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)設(shè)計和散熱方案。提高產(chǎn)品的性能和可靠性,延長產(chǎn)品的使用壽命。






塑料高低溫快速溫變試驗箱韌性降低測試









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