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高低溫沖擊試驗(yàn)箱三槽式二箱式多種規(guī)格
簡(jiǎn)要描述:

高低溫沖擊試驗(yàn)箱有三槽式和二箱式多種規(guī)格可選。三槽式具備高溫區(qū)、低溫區(qū)和測(cè)試區(qū),能實(shí)現(xiàn)快速溫度轉(zhuǎn)換,精準(zhǔn)模擬不同的溫度環(huán)境變化。二箱式結(jié)構(gòu)緊湊,操作簡(jiǎn)便。多種規(guī)格滿足不同產(chǎn)品尺寸和測(cè)試需求。廣泛應(yīng)用于電子、電器、汽車等行業(yè),對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行嚴(yán)格的溫度沖擊測(cè)試,提前發(fā)現(xiàn)潛在問(wèn)題,確保產(chǎn)品在各種惡劣環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性,為企業(yè)提升產(chǎn)品質(zhì)量、增強(qiáng)市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力提供有力保障。高低溫沖擊試驗(yàn)箱三槽式二箱式多種規(guī)格

  • 產(chǎn)品型號(hào):TSD-100F-3P
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-09-03
  • 訪  問(wèn)  量:204
詳情介紹
品牌廣皓天價(jià)格區(qū)間5萬(wàn)-10萬(wàn)
產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,交通,航天,電氣
高溫區(qū)+60℃~200℃低溫區(qū)-10℃~-60℃
溫度波動(dòng)度±0.5℃溫度均勻度±3℃
溫度恢復(fù)時(shí)間3~5 分鐘 高溫槽升溫速度平均約 5℃/min
低溫槽降溫速度平均約 1.5℃/min高低溫暴露時(shí)間 30min 以上
高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間≤10秒樣品容積36L
工作室尺寸400×500×500mm(寬 × 高 × 深)外形尺寸約 1680×1850×2120mm
電源380V/50Hz重量約 545kg


高低溫沖擊試驗(yàn)箱三槽式二箱式多種規(guī)格



引言:

在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中,產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性至關(guān)重要。高低溫沖擊試驗(yàn)箱作為一種關(guān)鍵的測(cè)試設(shè)備,能夠模擬各種不同的溫度環(huán)境,對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行嚴(yán)格的考驗(yàn)。我們的高低溫沖擊試驗(yàn)箱有三槽式和二箱式多種規(guī)格,為您提供更多選擇,滿足不同的測(cè)試需求。



一、產(chǎn)品特點(diǎn)


  1. 精準(zhǔn)控溫:采用先進(jìn)的溫度控制系統(tǒng),能夠精確控制高低溫范圍,確保測(cè)試的準(zhǔn)確性。

  2. 快速切換:在高低溫之間實(shí)現(xiàn)快速切換,滿足不同測(cè)試需求。

  3. 穩(wěn)定可靠:高品質(zhì)的制造工藝和材料,保證設(shè)備的穩(wěn)定性和可靠性,長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行。

  4. 三箱結(jié)構(gòu):根據(jù)測(cè)試要求的三箱設(shè)計(jì),分別為高溫區(qū)、低溫區(qū)和測(cè)試區(qū),有效隔離不同溫度環(huán)境,提高測(cè)試效率。

  5. 操作簡(jiǎn)便:人性化的操作界面,易于操作和設(shè)置參數(shù)。



二、TSD-100F-3P 參數(shù):
  • 溫度范圍:高溫區(qū) +60℃~+150℃,低溫區(qū) -10℃~-65℃。

  • 溫度波動(dòng)度:高溫區(qū) ±0.5℃,低溫區(qū) ±1.0℃。

  • 溫度均勻度:高溫區(qū) ±2.0℃,低溫區(qū) ±2.0℃。

  • 升溫速率:從常溫升溫至 +150℃約 30 分鐘。

  • 降溫速率:從常溫降溫至 -65℃約 60 分鐘。

  • 工作室尺寸:寬 × 高 × 深為 400mm×500mm×500mm。






三、應(yīng)用領(lǐng)域


廣泛應(yīng)用于電子、電器、通訊、汽車、航空航天等領(lǐng)域,對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高低溫沖擊測(cè)試,以檢驗(yàn)產(chǎn)品在不同溫度環(huán)境下的性能和可靠性。


四、滿足以下標(biāo)準(zhǔn)


一、國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)


  1. IEC 60068-2-14:環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N:溫度變化。

  2. MIL-STD-810F:美國(guó)J用標(biāo)準(zhǔn),環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)方法。


二、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)


  1. GB/T 2423.1-2008:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A:低溫。

  2. GB/T 2423.2-2008:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B:高溫。

  3. GB/T 2423.22-2012:環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N:溫度變化。





高低溫沖擊試驗(yàn)箱三槽式二箱式多種規(guī)格


選擇我們的高低溫沖擊試驗(yàn)箱,無(wú)論是三槽式還是二箱式,多種規(guī)格總有一款適合您。讓我們一起為提升產(chǎn)品質(zhì)量、確保產(chǎn)品可靠性而努力,為您的企業(yè)發(fā)展助力





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