詳情介紹
品牌 | 廣皓天 | 價格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應用領域 | 能源,電子,交通,航天,電氣 |
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高溫區(qū) | +60℃~200℃ | 低溫區(qū) | -10℃~-60℃ |
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溫度波動度 | ±0.5℃ | 溫度均勻度 | ±3℃ |
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溫度恢復時間 | 3~5 分鐘 | 高溫槽升溫速度 | 平均約 5℃/min |
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低溫槽降溫速度 | 平均約 1.5℃/min | 高低溫暴露時間 | 30min 以上 |
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高低溫轉(zhuǎn)換時間 | ≤10秒 | 樣品容積 | 36L |
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工作室尺寸 | 600×500×500mm(寬 × 高 × 深) | 外形尺寸 | 約 1880×1850×2120mm |
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電源 | 380V/50Hz | 重量 | 約 560kg |
三箱式冷熱沖擊試驗箱芯片行業(yè)使用設備
在當今科技飛速發(fā)展的時代,芯片作為電子設備的核心部件,其質(zhì)量和可靠性至關(guān)重要。而三箱式冷熱沖擊試驗箱,正是芯片行業(yè)中一款不可少的檢測設備。它以其出色的性能和精準的測試能力,為芯片的研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制提供了有力的保障。
一、主要功能及特點:
功能:能夠快速實現(xiàn)高溫、低溫之間的切換,模擬芯片在實際使用中可能面臨的惡劣的溫度變化環(huán)境,對芯片的性能、可靠性進行嚴格測試。
特點:
三箱獨立結(jié)構(gòu),確保溫度轉(zhuǎn)換高效、準確。
精準的溫度控制,溫度波動小,保證測試結(jié)果的可靠性。
操作簡便,智能化控制系統(tǒng),方便用戶進行參數(shù)設置和監(jiān)控。
具有良好的穩(wěn)定性和耐用性,能夠長時間連續(xù)工作。

二、TSD-150F-3P 參數(shù):溫度范圍:高溫區(qū) +60℃~+150℃,低溫區(qū) -10℃~-65℃。
溫度波動度:高溫區(qū) ±0.5℃,低溫區(qū) ±1.0℃。
溫度均勻度:高溫區(qū) ±2.0℃,低溫區(qū) ±2.0℃。
升溫速率:從常溫升溫至 +150℃約 30 分鐘。
降溫速率:從常溫降溫至 -65℃約 60 分鐘。
工作室尺寸:寬 × 高 × 深為 600mm×500mm×500mm。
三、具備測試條件:該試驗箱具備精準的溫度控制能力,能夠在高溫與低溫之間快速切換,模擬各種不同的溫度變化情況。無論是三箱式還是二箱式,都擁有寬敞的測試空間,可滿足不同尺寸產(chǎn)品的測試需求。同時,配備高性能的監(jiān)測系統(tǒng),實時記錄測試過程中的溫度、時間等參數(shù),為測試結(jié)果的準確性提供保障。
四、滿足以下標準:
一、國際標準
IEC 60068-2-14:環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 N:溫度變化。
MIL-STD-810F:美國J用標準,環(huán)境工程考慮和實驗室試驗方法。
二、國家標準
GB/T 2423.1-2008:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 A:低溫。
GB/T 2423.2-2008:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 B:高溫。
GB/T 2423.22-2012:環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 N:溫度變化。














三箱式冷熱沖擊試驗箱芯片行業(yè)使用設備
三箱式冷熱沖擊試驗箱在芯片行業(yè)中扮演著關(guān)鍵的角色。它的出現(xiàn),為芯片企業(yè)提升產(chǎn)品質(zhì)量、增強市場競爭力提供了有力的支持。選擇三箱式冷熱沖擊試驗箱,就是為芯片的出色品質(zhì)保駕護航
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