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50L冷熱沖擊試驗(yàn)箱芯片封裝后測試設(shè)備
簡要描述:

50L冷熱沖擊試驗(yàn)箱芯片封裝后測試設(shè)備
50L 冷熱沖擊試驗(yàn)箱是芯片封裝后理想的測試設(shè)備。它擁有 50L 的適中容量,能夠滿足芯片批量測試需求。該試驗(yàn)箱具備精確的溫度控制功能,可在短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊,精準(zhǔn)模擬各種極-端溫度環(huán)境。通過對封裝后芯片進(jìn)行測試,能有效檢測芯片在溫度驟變下的性能穩(wěn)定性,確保芯片在實(shí)際應(yīng)用中可靠工作,為芯片生產(chǎn)質(zhì)量保駕護(hù)航。

  • 產(chǎn)品型號:TSD-50F-3P
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-10-19
  • 訪  問  量:198
詳情介紹
品牌廣皓天價(jià)格區(qū)間5萬-10萬
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域電子,航天,汽車,電氣
內(nèi)容積50L內(nèi)型尺寸W400×H350×D350mm
外型尺寸W1250×H1450×D1320mm高溫測試區(qū)+ 60℃→+180℃
低溫測試區(qū)- 60℃~-10℃溫度沖擊范圍(+60~+150)℃(熱沖),低溫可至(-65~-10)℃(冷沖)
溫度穩(wěn)定性±0.5℃溫度均勻度±2.0℃

50L冷熱沖擊試驗(yàn)箱芯片封裝后測試設(shè)備


在當(dāng)今高度數(shù)字化的時(shí)代,芯片作為現(xiàn)代電子設(shè)備的核心部件,其可靠性和穩(wěn)定性至關(guān)重要。芯片封裝后的性能測試是保障芯片質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。隨著芯片技術(shù)的不斷發(fā)展,對于測試環(huán)境的要求也日益嚴(yán)苛。50L 冷熱沖擊試驗(yàn)箱作為一種專門針對芯片封裝后測試的先進(jìn)設(shè)備,應(yīng)運(yùn)而生。

它能夠精準(zhǔn)地模擬出芯片在實(shí)際使用過程中可能遇到的極-端溫度變化環(huán)境,從寒冷的極地到炎熱的沙漠環(huán)境,從電子設(shè)備開機(jī)瞬間的溫度驟變到長時(shí)間運(yùn)行后的溫度波動(dòng),50L 冷熱沖擊試驗(yàn)箱都能在實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行逼真的再現(xiàn)。這種測試對于確保芯片在不同應(yīng)用場景下的可靠性、延長芯片的使用壽命以及保障電子設(shè)備的整體性能都具有不可估量的意義。



50L冷熱沖擊試驗(yàn)箱芯片封裝后測試設(shè)備


TSD-50F-3P 皓天冷熱沖擊試驗(yàn)箱的技術(shù)參數(shù)如下:

容積與尺寸:

內(nèi)容積:50L。

內(nèi)型尺寸:W400×H350×D350mm。

外型尺寸:W1250×H1450×D1320mm。

溫度范圍:

高溫測試區(qū):高溫室溫度范圍為 + 60℃→+180℃。

低溫測試區(qū):溫度范圍為 - 60℃~-10℃。

溫度沖擊范圍:(+60~+150)℃(熱沖);低溫可至(-65~-10)℃(冷沖)。

溫度性能:

溫度穩(wěn)定性:±0.5℃。

溫度均勻度:±2.0℃。

升溫時(shí)間:升溫 + 20℃→+180℃≤25min(高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)性能)。

降溫時(shí)間:降溫 + 20℃→-60℃≤60min(低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)性能)。

制冷系統(tǒng):

工作方式:機(jī)械壓縮二元復(fù)疊制冷方式。

制冷壓縮機(jī):全封閉式活塞壓縮機(jī)(法國泰康)。

制冷劑:R404a/R23(臭氧耗損指數(shù)為 0)。

其他配置:

控制器:彩色觸摸屏 TFT(8226S)中英文顯示器 PLC(控制軟件)溫控模塊。




50L冷熱沖擊試驗(yàn)箱芯片封裝后測試設(shè)備



50L 冷熱沖擊試驗(yàn)箱在芯片封裝后測試領(lǐng)域中扮演著至關(guān)重要的角色。它不僅是一種測試設(shè)備,更是保障芯片質(zhì)量、推動(dòng)電子行業(yè)發(fā)展的關(guān)鍵工具。

通過其精確的溫度控制和模擬能力,能夠有效地篩選出封裝后存在潛在性能缺陷的芯片,避免這些芯片流入市場造成電子設(shè)備故障等問題。它有助于芯片制造商提高產(chǎn)品質(zhì)量、減少售后維修成本,增強(qiáng)市場競爭力。

隨著電子技術(shù)的不斷進(jìn)步,我們有理由相信,50L 冷熱沖擊試驗(yàn)箱將在未來不斷優(yōu)化和發(fā)展,為芯片測試乃至整個(gè)電子行業(yè)的發(fā)展做出更大的貢獻(xiàn)。




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